MKA_2974-USB TYPE C TO 2x3 WAFER测试头(OP)-DA-024M21

测试端采用特种工程塑胶塑胶头防刮擦,耐磨性及韧性俱佳; 插入端有大倒角并取消卡钩非常适合自动化测试场所; 端子采用高导铜合金材质,接触稳定可靠;测试寿命可达15000次以
测试端采用特种工程塑胶,塑胶头防刮擦,耐磨性及韧性俱佳;
插入端有大倒角并取消卡钩,非常适合自动化测试场所;
端子采用高导铜合金材质,接触稳定可靠;测试寿命可达15000次以上;
设计定位销及螺丝孔,安装非常方便,应配合自适应夹具使用效果最佳。
Pin数:16P 或 24P
插拔寿命:15000次以上
插入力:2~12N
拔出力:2~12N
接触阻抗:小于30m欧姆
额定电流:3A Max
耐电压:100 VAC,1分钟
传输速率:10Gbps Max
绝缘阻抗:最小100M欧姆
,电压100 VDC
应用领域:手机自动化测试、充电器、笔电等